Automation of Rietveld Analysis for the Reduction of Analytical Bias and High-throughput Analysis

粉末回折測定データから結晶構造パラメータを引き出すRietveld解析は非常に強力な手段であるが，解析対象パラメータの多さから初心者には難しく，また解析に多大な時間が必要となる．また，解析者によるバイアスが大きく，不適切な解析法では誤った解析結果が得られる問題がある．本稿では初期値の大量生成と単発精密化というアプローチによりバイアスの一部除去と解析高速化を実現したAutoRietveldを紹介する．また，使いこなすためのRietveld解析および実験方法の基礎知識および解析の注意点について解説する．