En Küçük Kareler Yöntemi Kullanılarak xNa₂O·(100–x) P₂O₅ Cam Sistemi için Radyasyon Zırhlama Parametrelerinin Belirlenmesi

Radyasyon, geçmişten günümüze modern yaşamın birçok alanında önemli bir rol oynayan bir enerji biçimidir. İnsan biyolojisinin radyasyona duyarlılığı göz önüne alındığında, radyasyonun enerjisine bağlı olarak potansiyel zararlar oluşturabileceği bilinen bir gerçektir. Radyasyondan korunmaya yönelik stratejiler arasında en önemlisi, uygun zırhlama malzemelerinin kullanımıdır. Bir materyalin radyasyon zırhı olarak kullanılabilmesi için bilinmesi önemli başlıca parametreler; Lineer zayıflama katsayısı (LAC) ve kütlesel zayıflama katsayısıdır (MAC). Bu parametreler deneysel yolla ölçülebileceği gibi, teorik hesaplamalar ve simülasyonlar ile de hesaplanabilmektedir. Bu çalışmada, literatürde yer alan önceki araştırmalardan seçilen altı farklı materyal için, MCNP simülasyon programı ve eğri uydurma yöntemi ile hesaplanan LAC ve MAC değerlerini, farklı bir teorik hesaplama olan En Küçük Kareler Yöntemi (EKKY) yardımı ile yeniden hesaplanması amaçlanmıştır. Elde edilen parametreler XCOM veri kütüphanesinde ki değerler ve literatürdeki çalışmalar ile kıyaslanmıştır. Yapılan değerlendirmelerde, sonuçlar arasında %1’den daha az bir fark olduğu tespit edilmiş ve bu durum istatistiksel açıdan yüksek bir uyumun varlığını göstermektedir.