基于太赫兹脉冲时域算法的绝缘子缺陷检测
Authors
- Shanfeng Liu (ORCID: https://orcid.org/0009-0002-6337-0992)
- Shengzhe Xi
- Qi Wang
- Yimin WEI
- 河南九域腾龙信息工程有限公司,河南 郑州 450000
- Lu ZHANG
- 国网河南省电力公司,河南 郑州 450000
- 国网河南省电力公司电力科学研究院,河南 郑州 450052
Publication Details
- Journal
- Journal of Applied Optics
- Published
- 2026-01-01
- DOI
- https://doi.org/10.5768/jao202647.0203005
- Primary Topic
- Machine Fault Diagnosis Techniques
- Type
- article
- Field-Weighted Citation Impact
- 0.00