Simulation électrique de l'injection de faute laser dans une cellule mémoire SRAM : une approche à la sensibilisation à la cybersécurité matérielle en BUT GEII
Authors
- L Pichon
Publication Details
- Journal
- SPIRE - Sciences Po Institutional REpository
- Published
- 2025-12-03
- Primary Topic
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Type
- article
- Field-Weighted Citation Impact
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