Simulation électrique de l'injection de faute laser dans une cellule mémoire SRAM : une approche à la sensibilisation à la cybersécurité matérielle en BUT GEII

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SPIRE - Sciences Po Institutional REpository
Published
2025-12-03
Primary Topic
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Type
article
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Simulation électrique de l'injection de faute laser dans une cellule mémoire SRAM : une approche à la sensibilisation à la cybersécurité matérielle en BUT GEII

L Pichon
SPIRE - Sciences Po Institutional REpository
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
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Simulation électrique de l'injection de faute laser dans une cellule mémoire SRAM : une approche à la sensibilisation à la cybersécurité matérielle en BUT GEII

L Pichon
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Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
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