Sensitivity Analysis and Design Methodology for Secure Digital Circuits against X-Rays

Dans les applications numériques, les composants électroniques doivent garantir la sécurité des informations traitées. Les attaques physiques sont maintenant des menaces bien connues, et la recherche de nouvelles techniques d'attaque reste un domaine très actif : l'utilisation de l'illumination par rayons X s'est récemment avérée possible pour altérer le contenu des cellules mémoire. Dans ce contexte, le projet MITIX vise à prouver que les rayons X peuvent effectivement constituer une menace sérieuse pour les implémentations sécurisées, même lorsque des équipements plus abordables sont utilisés.Au cours de cette thèse, le candidat devra analyser la sensibilité des circuits sécurisés grâce à des modèles de simulation et les comparer aux résultats expérimentaux afin de pouvoir éventuellement prédire les résultats expérimentaux et extraire des cartes de sensibilité étendues à une plus grande zone de la topologie. Le candidat pourra ensuite utiliser les modèles et le flux développés afin d'évaluer des techniques de durcissement ou des contre-mesures d'attaque de fautes.