Authors

• Sylvain Chataigner (ORCID: https://orcid.org/0000-0002-5711-5269)
• Stéphane Rioual (ORCID: https://orcid.org/0000-0002-8797-5956)
• Yannick Falaise
• Benoît Lescop (ORCID: https://orcid.org/0000-0003-4163-4707)
• Cheikh Sarr (ORCID: https://orcid.org/0000-0003-0075-8017)
• Laurent Gaillet
• Philippe Talbot

Institutions

• Centre National de la Recherche Scientifique (FR)
• Université de Bretagne Occidentale (FR)
• Laboratoire des Sciences et Techniques de l’Information de la Communication et de la Connaissance (FR)
• Université Gustave Eiffel (FR)

Publication Details

Journal

Nondestructive Testing And Evaluation

Published

2025-03-13

DOI

https://doi.org/10.1080/10589759.2025.2477685

Citations

3

Primary Topic

RFID technology advancements

Type

article

Field-Weighted Citation Impact

3.41