Authors

• Baptiste Bérenguier (ORCID: https://orcid.org/0000-0001-7725-3928)
• Jean‐Paul Kleider (ORCID: https://orcid.org/0000-0003-4388-6326)
• Sylvain Le Gall (ORCID: https://orcid.org/0000-0003-3941-5994)
• Jean‐François Guillemoles (ORCID: https://orcid.org/0000-0003-0114-8624)
• Hiba Haddara

Institutions

• Centre National de la Recherche Scientifique (FR)
• Institut de France (FR)
• Institut Pprime (FR)
• Laboratoire de Génie Électrique et Électronique de Paris (FR)
• Institut de Recherche de Chimie Paris (FR)
• Institut de Chimie (FR)
• Institut Photovoltaïque d’Île-de-France (FR)

Publication Details

Journal

SPIRE - Sciences Po Institutional REpository

Published

2024-09-23

Primary Topic

Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis

Type

article

Field-Weighted Citation Impact

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