Analysis of The Relationship between Parental Childhood Invalidation Environment, Negative Automatic Thoughts, and Experience Avoidance Behavior by Educational Level
본 연구는 중학생과 고등학생을 대상으로 교육 수준별 부모의 유년기 무효화환경이 청소년의 부정적 자동적 사고와 경험회피행동에 미치는 영향을 살펴보고, 청소년들에게 미치는 부모의 유년기 무효화환경과 청소년의 경험회피행동 간에 부정적 자동적 사고의 매개효과를 확인하기 위해 진행되었다. 연구 결과를 기반으로 청소년의 경험회피행동을 예방할 수 있는 상담 프로그램과 청소년의 경험회피행동 개입에 필요한 기초자료로 활용하고자 한다. 이를 위하여 경기지역 중학교 195명과 고등학생 186명 총 381명의 자료를 연구에 활용하였다. 수집된 자료는 먼저 IBM SPSS v27.0으로 기술통계분석과 상관관계분석, 다중회귀분석, 위계적 회귀분석을 진행하였고 Process macro(model 4)로 연구 문제를 검증하였다. 연구 결과를 보면, 첫째, 교육 수준(중학생, 고등학생)에 따른 부모의 유년기 무효화환경이 경험회피행동에 미치는 영향을 보면, 중학생과 고등학생 모두 부의 유년기 무효화환경은 경험회피행동에 정(+)적인 영향을 미치는 것으로 확인되었지만, 모의유년기 무효화환경은 통계적으로 유의한 영향이 없는 것으로 나타났다. 둘째, 교육 수준(중학생, 고등학생)에 따른 부정적 자동적 사고가 경험회피행동에 미치는 영향은 중학생과 고등학생 모두 부정적 자동적 사고가 경험회피행동에 정(+)적인 영향을 미치는 것으로 확인되었다. 셋째, 부정적 자동적 사고의 매개효과는 중학생의 경우, 부와 모의 유년기 무효화환경과 경험회피행동 간에 부정적 자동적 사고가 완전 매개 역할을 하는 것으로 확인되었다. 고등학생의 경우, 부와 모의 유년기 무효화환경과 경험회피행동 간에 부정적 자동적 사고가 부분 매개 역할을 하는 것으로 확인되었다. 이와 같은 검증으로 얻어진 결과를 바탕으로 논의하고, 본 연구의 한계점과 후속 연구의 필요성을 제언하였다.
Authors
- Soyon Paek (ORCID: https://orcid.org/0000-0002-2604-9561)
- Jieun Kim (ORCID: https://orcid.org/0000-0001-8656-6387)
Publication Details
- Journal
- sychological Type and Human Development
- Published
- 2024-10-31
- DOI
- https://doi.org/10.52745/kapt.2024.25.2.83
- Primary Topic
- Psychosocial Factors Impacting Youth
- Type
- article
- Field-Weighted Citation Impact
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